植物冠層圖像分析儀是霍爾德科技研發(fā)生產(chǎn)的一款檢測(cè)設(shè)備，可用于檢測(cè)植物冠層，還可對(duì)植物冠層進(jìn)行圖像分析，以便獲取精準(zhǔn)的參數(shù)，了解植物的真實(shí)生長(zhǎng)狀況。

　　儀器可用于各種高度植物觀察呢過的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測(cè)量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)測(cè)量方法要一天定點(diǎn)多次測(cè)量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測(cè)量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測(cè)量計(jì)算的障礙物。

　　可屏蔽不合理冠層部分：對(duì)不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件，通過手動(dòng)調(diào)節(jié)閾值，可以更精準(zhǔn)的測(cè)量出葉面積指數(shù)等參數(shù)。

　　植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

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